?國創科儀 X射線發射譜儀 SuperXAFS E6000

核心參數

1.能量范圍：5-18keV

2.能量分辨率：≤2.0eV@(7-9keV)

3.能量重復性：≤30meV@24h

4.X射線源：配置功率≥100W微焦斑×射線源(2個靶材Pd/W),電壓20-40kV,管電流4mA,核心-空穴生成速率≥1011/s @(7-9keV)      

5.面探測器：配備毛細管聚焦鏡，樣品處聚焦光斑≤100um,聚焦鏡可自動進行切換

6.調節機構精度：能量掃描時最小步長0.1eV

?國創科儀 X射線發射譜儀 SuperXAFS E6000

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是一種用于元素定性和定量分析的儀器，主要作用包括：

確定樣品中的元素組成：廣泛應用于金屬、礦石、土壤、生物樣品等。

測量元素含量：通過分析特征 X 射線的強度，定量計算樣品中各元素的質量分數，精度可達 ppm 級（百萬分之一）。

非破壞性檢測：無需破壞樣品，適用于文物、鍍層、薄膜等特殊樣品的分析。

XRF 因其快速、非破壞性和多元素分析能力，廣泛應用于以下領域：

1. 材料科學與工業

金屬成分分析：鋼鐵、鋁合金、電子元器件中的合金元素檢測。

鍍層與薄膜檢測：測量涂層厚度（如 PCB 板鍍金層）和成分（如塑料表面金屬鍍層）。

半導體材料：分析硅片中的雜質元素（，確保芯片純度。

2. 地質與礦產勘探

礦石成分分析：快速檢測礦石中的金屬元素含量，指導采礦和選礦。

巖礦鑒定：通過元素組成區分巖石類型（如花崗巖、玄武巖），輔助地質構造研究。

3. 環境與生態監測

土壤與水質污染檢測：分析重金屬含量，評估環境污染程度。

固廢與危險品分析：鑒別工業廢料中的有害元素，支持垃圾分類和處理。