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國(guó)創(chuàng)科儀同步輻射x射線吸收譜儀的X射線吸收過(guò)程:當(dāng)X射線能量達(dá)到原子內(nèi)層電子(如K層、L層)結(jié)合能時(shí),電子被激發(fā)至未占據(jù)態(tài)或電離,形成吸收邊(Absorption Edge)。
X射線精細(xì)結(jié)構(gòu)分析譜儀(XAFS/XES)是一種用于研究材料局部結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)的非破壞性技術(shù)。XAFS/XES主要應(yīng)用于催化劑 、合金、陶瓷、環(huán)境污染物、各類晶態(tài)和非晶態(tài)材料及生物樣品內(nèi)金屬離子的價(jià)態(tài)、配位結(jié)構(gòu)及電子狀態(tài)分析,以及材料局部結(jié)構(gòu)在熱場(chǎng)、光場(chǎng)、電場(chǎng)和磁場(chǎng)變化下的局部結(jié)構(gòu)動(dòng)態(tài)演化過(guò)程研究等。
國(guó)創(chuàng)科儀快掃型X射線吸收譜儀 SuperXAFS V8000 是一種用于研究材料局部結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)的非破壞性技術(shù)。
國(guó)創(chuàng)科儀廠家的通用型X射線吸收譜儀SuperXAFS H3000 通過(guò)探測(cè)原子近鄰環(huán)境和價(jià)態(tài),在不破壞樣品的前提下實(shí)現(xiàn)元素特異性和局域結(jié)構(gòu)分析,尤其適用于傳統(tǒng)表征手段(如 XRD、SEM)難以解決的微觀機(jī)制研究。其應(yīng)用貫穿從基礎(chǔ)科學(xué)到工業(yè)實(shí)踐的多個(gè)領(lǐng)域,成為連接原子尺度結(jié)構(gòu)與宏觀性能的關(guān)鍵工具。
國(guó)創(chuàng)科儀寬能譜X射線吸收譜儀適用性強(qiáng),滿足全部常規(guī)樣品測(cè)試的同時(shí),亦可滿足特殊樣品測(cè)試,如磷、鉀、錒系、有毒、有放射性樣品等。
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